SIKORA推出CENTERWAVE 6000/250，适用于直径32至250毫米的小口径管材。得益于其旋转速度自动调节功能，该系统可对壁厚自1.6毫米起的管材实现壁厚的100%测量，并测定直径和椭圆度。

X-RAY 6000 PRO 是一款功能强大的系统，可持续监测单层和多层产品的壁厚，并将其优化至最小公差值。安全余量可逐步缩减，自动控制可使各项尺寸始终保持在规范范围内。质量保证与材料节省相结合，将显著提升生产效率。

针对塑料颗粒或用于黑点分析的测试片的抽样检测，SIKORA推出 PURITY CONCEPT V。该系统可在数秒内检查测试材料是否存在金属污染或光学偏差。污染物将被自动检测、可视化并进行统计评估。欢迎参观者携带少量颗粒直接到展位进行测试与评估。

SIKORA 的 PURITY SCANNER ADVANCED 可对塑料颗粒进行在线 100% 检测，并能自动剔除含有 ≥25 微米污染的单颗粒。该系统将 X 射线技术与灵活的光学系统相结合。除 X 射线相机外，还可根据预期污染类型和应用场景最多安装三台光学相机。所有类型的颗粒均可可靠检测。X 射线相机用于检测颗粒内部及其表面的金属杂质；光学相机用于检测透明、半透明及有色原料中的色差。污染颗粒将被自动剔除，从而确保材料质量。