SIKORA 的 PURITY SCANNER ADVANCED 可对塑料颗粒进行在线 100% 检测，并能自动剔除含有 ≥25 微米污染的单颗粒。该系统将 X 射线技术与灵活的光学系统相结合。除 X 射线相机外，还可根据预期污染类型和应用场景最多安装三台光学相机。所有类型的颗粒均可可靠检测。X 射线相机用于检测颗粒内部及其表面的金属杂质；光学相机用于检测透明、半透明及有色原料中的色差。污染颗粒将被自动剔除，从而确保材料质量。